The ALBA spectroscopic LEEM-PEEM experimental station : Layout and performance

Web of Science: 86 cites, Scopus: 88 cites, Google Scholar: cites,

(ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró)
Foerster, Michael

(ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró)
Pellegrin, Eric

(ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró)
Nicolás, Josep

(ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró)
Ferrer Fàbregas, Salvador (ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró)

Data:	2015
Resum:	The spectroscopic LEEM-PEEM experimental station at the CIRCE helical undulator beamline, which started user operation at the ALBA Synchrotron Light Facility in 2012, is presented. This station, based on an Elmitec LEEM III microscope with electron imaging energy analyzer, permits surfaces to be imaged with chemical, structural and magnetic sensitivity down to a lateral spatial resolution better than 20nm with X-ray excited photoelectrons and 10nm in LEEM and UV-PEEM modes. Rotation around the surface normal and application of electric and (weak) magnetic fields are possible in the microscope chamber. In situ surface preparation capabilities include ion sputtering, high-temperature flashing, exposure to gases, and metal evaporation with quick evaporator exchange. Results from experiments in a variety of fields and imaging modes will be presented in order to illustrate the ALBA XPEEM capabilities.
Drets:	Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, la comunicació pública de l'obra i la creació d'obres derivades, fins i tot amb finalitats comercials, sempre i quan es reconegui l'autoria de l'obra original.
Llengua:	Anglès
Document:	Article ; recerca ; Versió publicada
Matèria:	LEEM ; PEEM ; X-ray absorption ; X-ray magnetic dichroism ; Photoemission ; Spectromicroscopy
Publicat a:	Journal of Synchrotron Radiation, Vol. 22, Part 3 (May 2015) , p. 745-752, ISSN 1600-5775

8 p, 1.6 MB

Registre creat el 2019-02-18, darrera modificació el 2022-03-26