visitant ::
identificació
|
|||||||||||||||
Cerca | Lliura | Ajuda | Servei de Biblioteques | Sobre el DDD | Català English Español |
Pàgina inicial > Articles > Articles publicats > Large-signal model of 2DFETs : |
Data: | 2019 |
Resum: | We present a physics-based circuit-compatible model for double-gated two-dimensional semiconductor-based field-effect transistors, which provides explicit expressions for the drain current, terminal charges, and intrinsic capacitances. The drain current model is based on the drift-diffusion mechanism for the carrier transport and considers Fermi-Dirac statistics coupled with an appropriate field-effect approach. The terminal charge and intrinsic capacitance models are calculated adopting a Ward-Dutton linear charge partition scheme that guarantees charge conservation. It has been implemented in Verilog-A to make it compatible with standard circuit simulators. In order to benchmark the proposed modeling framework we also present experimental DC and high-frequency measurements of a purposely fabricated monolayer MoS-FET showing excellent agreement between the model and the experiment and thus demonstrating the capabilities of the combined approach to predict the performance of 2DFETs. |
Ajuts: | Ministerio de Economía y Competitividad TEC2017-89955-P Ministerio de Economía y Competitividad TEC2015-67462-C2-1-R Ministerio de Ciencia e Innovación RTI2018-097876-B-C21 European Commission 785219 Ministerio de Economía y Competitividad IJCI-2017-32297 Ministerio de Economía y Competitividad FPU16/04043 |
Nota: | Altres ajuts: Consejería de Economía, Conocimiento, Empresas y Universidad de la Junta de Andalucía and European Regional Development Fund (ERDF), ref. SOMM17/6109/UGR |
Drets: | Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, la comunicació pública de l'obra i la creació d'obres derivades, fins i tot amb finalitats comercials, sempre i quan es reconegui l'autoria de l'obra original. |
Llengua: | Anglès |
Document: | Article ; recerca ; Versió publicada |
Matèria: | Charge conservation ; Circuit compatible models ; Circuit simulators ; Drain current models ; High frequency measurements ; Intrinsic capacitance ; Large signal modeling ; Two-dimensional semiconductors |
Publicat a: | npj 2D Materials and Applications, Vol. 3 (December 2019) , art. 47, ISSN 2397-7132 |
7 p, 1.6 MB |