Simulating the impact of random telegraph noise on integrated circuits
Saraza-Canflanca, Pablo (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)
Camacho-Ruiz, Eros (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)
Castro-Lopez, Rafael (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)
Roca, Elisenda (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)
Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Fernandez, Francisco V. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)

Publicació:	VDE Verlag GmbH, 2021
Descripció:	4 pàg.
Resum:	This paper addresses the statistical simulation of integrated circuits affected by Random Telegraph Noise (RTN). For that, the statistical distributions of the parameters of a defect-centric model for RTN are experimentally determined from a purposely designed integrated circuit with CMOS transistor arrays. Then, these distribution functions are used in a statistical simulation methodology that, taking into account transistor sizes, biasing conditions and time, can assess the impact of RTN in the performance of an integrated circuit. Simulation results of a simple circuit are shown together with experimental measurements of a circuit with the same characteristics implemented in the same CMOS technology.
Ajuts:	Agencia Estatal de Investigación PID2019-103869RB Ministerio de Ciencia e Innovación BES-2017-080160
Nota:	La conferència també és coneguda com a SMACD/PRIME 2021 - International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design and 16th Conference on PhD Research in Microelectronics and Electronics
Drets:	Tots els drets reservats.
Llengua:	Anglès
Document:	Capítol de llibre ; recerca ; Versió acceptada per publicar
Matèria:	Characterization ; CMOS ; RTN ; Simulation ; Transistor
Publicat a:	SSMACD / PRIME 2021: International Conference on SMACD and 16th Conference on PRIME, 2021, p. 1-4, ISBN 978-3-8007-5588-2

Postprint 5 p, 2.0 MB

El registre apareix a les col·leccions:
Llibres i col·leccions > Capítols de llibres